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覆層測厚儀原理簡述

覆層測厚儀原理簡述：

無損檢測技術是一個**的理論,和高度重視的實踐非常有前途的學科。它涉及材料的物理性質、產品設計、制造過程中,斷裂力學和有限元計算,和許多其他方面。
在化工、電子、電力、金屬等,為了實現各種材料的保護或裝飾效果,通常覆蓋著噴,有色金屬和磷化、陽極氧化處理方法,通過這種方式,有涂料、涂料、涂料、貼一層或化學等概念生成膜,我們稱之為“覆蓋”。
涂層厚度測量已成為金屬加工行業用戶必要的成品質量檢驗*重要的工序。基本手段是產品符合質量標準。
目前,國內外已廣泛按照統一的國際標準對涂層厚度的確定,包層,無損檢測方法和儀器的選擇以及循序漸進的研究材料物理性能更重要。
包層無損檢測方法,主要包括:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等
除了五種大多數這些方法后會損害產品或產品表面,損傷檢測,測量和繁瑣,緩慢,更適合抽樣檢驗。x射線無損測量和β射線反射法不能接觸,但復雜的,昂貴的,小的測量范圍。由于放射性源,因此,用戶必須遵守輻射防護規范,在每一層更常用的金屬鍍層厚度測量。電容方法通常只在非常薄的厚度的絕緣導電涂層應用程序的測試。
磁測量方法和渦流測量方法,隨著技術的日益進步,特別是近年來在微處理器技術的引入,測厚儀微,聰明、多功能、高精度、可行的方式向前邁進的重要一步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可以達到1%,適用范圍寬,范圍廣泛,操作簡單,價格低廉。是應用*廣泛的工業和科研儀器。

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